產(chǎn)品介紹

ROHS測試儀                                                                                                                                                      性能優(yōu)勢介紹
針對DX320L在各個(gè)領(lǐng)域的廣泛應用，根據優(yōu)化產(chǎn)品性能和提高安全防護等級的需求，特別設計該款DX320L。應用新一代的高壓電源和X光管，提高產(chǎn)的可靠性；利用新X光管的大功率提高儀器的測試效率； 集合了多年ROHS檢測經(jīng)驗，應用新一代，分辨率zui高的電制冷SDD半導體探測器,對六種有害元素尤其是Br、Cl等鹵素進(jìn)行了優(yōu)化,提高儀器測試的穩定性和精度性。

ROHS測試儀                                                                                                                                                      性能特點(diǎn)：
工作曲線(xiàn)：提供開(kāi)放性工作曲線(xiàn)功能，根據企業(yè)物料情況量身定做的有害元素檢測和控制方案；
準直器和濾光片：多種準直器和濾光片的電動(dòng)切換，滿(mǎn)足各種測試方式的應用實(shí)現了全自動(dòng)一鍵測試。
移動(dòng)平臺：精細的手動(dòng)移動(dòng)平臺，方便定位測試點(diǎn)
高分辨率探測器：采用，分辨率zui高的電制冷SDD半導體探測器，更有利于儀 器的穩定性和精度性
新一代的高壓電源和X光管：性能穩定可靠，高達150W的功率實(shí)現更高的測試效率安全性能：全光路射線(xiàn)防護系統配合經(jīng)典的三重安全防護設計,同時(shí)采用軟、硬件雙重安全連鎖,確保輻射安全性能；

                                                                                                                                                      主要技術(shù)參數：
型號：DX-320L
測試對像：粉未、固體、液體
元素分析范圍：鈉（Na）—鈾（U）
含量分析范圍：1PPM—99.99%
測量時(shí)間：30—200秒
探測器：電制冷SDD半導體探測器
儀器分辨率：127eV±5
zui低檢出限：Cd/Cr/Hg/Br≤2ppm Pb≤5ppm CL≤20ppm
Sb/Se/Ba/Pb/As/Cd/Cr/Hg/Br≤2ppm Pb≤5ppm，CL≤5ppm（八大重金屬）
多道分析器：2048道
輸入電壓：AC 220V±10%，50HZ（建議配穩壓電源）
額定功率：300W（帶電腦）
環(huán)境濕度：30%--80%
外型尺寸：660mm×480mm×330mm
測量倉：440mm×350mm×150mm
儀器重量：62公斤

                                                                                                                                                         標準配置:
高低壓電源（美國Spellman進(jìn)口）
大功率X光管（英國Oxford牛津進(jìn)口）
電制冷半導體探測器（美國AMPTEK進(jìn)口）
多道分析器（美國進(jìn)口）
控制電路
高壓?jiǎn)卧?br />移動(dòng)樣品臺
高清晰CCD
準直器：含Ф8.0mm、Ф6.0mm、Ф2.0mm、Ф1.0mm、Ф0.5mm、Ф0.2mm各一個(gè)
濾光片：5組濾光片
計算機：品牌商務(wù)電腦（內存2G、硬盤(pán)200G），17寸液晶顯示器
打印機：彩色噴墨打印機

應用范圍：
RoHS檢測分析
地礦與合金（銅合金、鋅合金、鎂合金、鈦合金、鈷合金、不銹鋼等金屬樣品的成分等）成分分析
金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定
黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測

  掃一掃關(guān)注【德譜儀器】